标题：关于F501的测光方式

书中对F501的规格指标有：

“测光系统：光强反馈式测光方式(用于双程序、正常程序、高速程序和光圈优先自动曝光)；中央重点加权平均测光；测光元件为SPD。”

你看书没看仔细，别怪我喔，该打；-)

其实NIKON对这个测光方式(Light Intensity Feedback Measurement)一直语焉不详。我也花一段时间才搞懂一些。

F501的双分区是：画面中直径为12mm的圆形为一个区，其他部位为第二区。中央的圆形区就是CW测光，而外围是平均测光。其工作原理类似于OLYMPUS OM-40的ESP(Electro Select Pattern)方式，当在各种自动或半自动曝光方式下，比较中央区域和外围的测光值，当两者差别不大时，将全画面都考虑进来作一“全画面的CW”测光；如果两者差别太大，就以“中央区域CW”为准了。这样就具有自动逆光补偿的功能。类似的测光方式RICOH也用过，在MIRAI上叫ABLC(Automatic Back Light Control)，都差不多。

在M方式下，已经没有必要自动补偿，所以测光方式就切到了“中央区域的CW”，也就是我前两天说的CW测光方式了。

后来NIKON觉得这种方式不太好，这个测光方式就在F301和F501上使用后就没有了，在后出的F401上采用了三分区测光方式，但实际是四分区：在画面上部先割一小长条、再将剩下部分割出中央圆形、再再将剩下部分割成左右两部分。测光元件根本就不理睬上部的一小长条，只考虑下面的三区。这个就要比F501的好些了。